Proceso de envasado y ensayo de semiconductores
LNEYA cuenta con una amplia experiencia en investigación y desarrollo de productos en la industria de pruebas y envasado de semiconductores, y su amplia línea de productos satisface las diversas necesidades de control de temperatura de la industria.
Los productos incluyen: Enfriadoras de alta precisión de la serie FLTZ, enfriadoras frigoríficas de la serie LT, unidades de intercambio de calor y control de temperatura ETCU, máquinas de enfriamiento directo ZLJ/ZLTZ, enfriadoras de gas AES/LQ/AI/AET/secadoras de gas, cajas de prueba de cámara y otros productos.
解决方案
SOLUCIÓN

El proceso de envasado y ensayo de semiconductores es un eslabón clave en el proceso de producción de semiconductores, que incluye el ensayo de obleas, el envasado de chips y el ensayo posterior al envasado. Este proceso no solo requiere alta precisión y fiabilidad, sino también un estricto control de la temperatura para garantizar la calidad y el rendimiento del producto.
El proceso típico de envasado es: corte en dados, montaje, pegado, sellado de plástico, desbarbado, galvanoplastia, impresión, corte y moldeado, inspección de aspecto, pruebas de producto acabado, envasado y envío.

Serie de conversión de frecuencia FLTZ
-Precisión del control de temperatura ±0,05℃ (temperatura de salida en estado estacionario).
-90~+100℃, utilizado principalmente para el control preciso de la temperatura en los procesos de producción y ensayo de semiconductores. La empresa aplica diversos algoritmos en el sistema para lograr una respuesta rápida del sistema y una gran precisión de control.

Serie LT de frecuencia fija
-Refrigeración por compresor en cascada, hasta -80℃.
El rango de temperatura del refrigerador LNEYA es de -80℃ a -5℃, utilizando tecnología de superenfriamiento secundario, enfriamiento rápido. Gran fiabilidad del producto y excelente rendimiento.

Enfriadora de intercambio térmico ETCU
-Sin compresor
ETCU sistema de intercambio de calor sin compresor, el sistema puede ser universal tanque de expansión, condensador, sistema de agua de refrigeración, etc, que puede reducir eficazmente el tamaño de los equipos y reducir el número de pasos de funcionamiento.

Cámara de pruebas de cambio rápido de temperatura
-Rápido cambio de temperatura, rápida velocidad de calentamiento y enfriamiento
Aplicable a la prueba de detección de estrés ambiental, a través de la detección de estrés ambiental de los productos, acelerar el descubrimiento de defectos de diseño del producto y mejorar la fiabilidad del producto. Muchas industrias se han dado cuenta de que la prueba de ciclo de cambio de temperatura a alta velocidad puede identificar sistemas poco fiables que ya han entrado en la fase de prueba de producción. Se ha convertido en un método estándar para mejorar la calidad y prolongar eficazmente la vida útil normal de los productos.

Cámara de pruebas de impacto de dos puertas
-Prueba de impacto, temperatura baja -40~0℃ temperatura alta +60~+150℃
La cesta de prueba es móvil durante las pruebas de impacto a alta y baja temperatura. La conversión de impacto a alta y baja temperatura se completa principalmente moviendo la cesta de prueba arriba y abajo en la zona de alta temperatura y la zona de baja temperatura. El tiempo de recuperación del impacto del tipo de dos cajas es más corto que el del tipo de tres cajas.

Cámara de pruebas transitable
-Gama de control de temperatura: -80℃~+150℃
Adecuado para baja temperatura, alta temperatura, cambios de alta y baja temperatura, calor húmedo constante, calor húmedo alternante de alta y baja temperatura y otras pruebas de máquinas completas o grandes componentes. El tamaño y la función del estudio se pueden cambiar según los requisitos del usuario. La caja tipo bloque tiene una bonita forma y un diseño científico del conducto de aire para satisfacer las necesidades de diferentes clientes.

Serie LQ
-La baja temperatura puede alcanzar -110℃
Aplicado para enfriar el gas (no corrosivo): cuando el aire comprimido seco, nitrógeno, argón y otros gases de temperatura normal se introducen en el equipo de la serie LQ, el gas saliente puede alcanzar la baja temperatura objetivo y ser suministrado a los componentes o intercambiadores de calor a probar.

AES系列热流仪
—升降温速率快,+150℃〜-55℃低于10S
射流式⾼低温冲击测试机给芯⽚、模块、集成电路板、电⼦元器件等提供精确且快速的环境温度。是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估的仪器设备。

AET系列气体快速温变测试机
-可选择控制出口气体温度和工艺目标过程温度
压缩空⽓进⼊⽓体快速温变测试机,内置有⼲燥器,预先把⽓体⼲燥到露点温度-70度以下,进⾏制冷加热控温输出稳定流量压⼒恒温的⽓体,对⽬标对象进⾏控温(如各类控温卡盘、腔体环境、热承板、料梭、腔体、电⼦元件等),可根据远程卡盘上的温度传感器进⾏⼯艺过程控温,⾃动调节输出⽓体的温度。

