Análisis del sistema de prueba de chips por qué prueba de chips?
Un fallo funcional significa que un punto de función no se implementa. Esto suele deberse al diseño. Suele verificarse mediante simulación antes de la fase de diseño, por lo que normalmente se diseña un chip y la verificación mediante simulación ocupa aproximadamente 80% del tiempo. . El rendimiento no está cualificado, un indicador de rendimiento no requiere autorización, como 2G cpu sólo puede funcionar a 1,5G, convertidor digital-analógico en las condiciones requeridas de velocidad de conversión y ancho de banda, el número efectivo de eeno para llegar a 12, pero sólo 10 , y el indicador de figura de ruido de lna no está a la altura y así sucesivamente. Este tipo de problema suele deberse a dos causas. Uno es que no hay espacio suficiente en el diseño del sistema en la fase inicial, y el otro es que la disposición de la implementación física es demasiado mala. Este tipo de problema suele verificarse mediante postsimulación. Producción fallida. La razón de este problema es mencionar la producción de silicio monocristalino. Quienes hayan estudiado física de semiconductores saben que el silicio monocristalino es una estructura cúbica regular centrada en la cara. Tiene varias orientaciones cristalinas. Normalmente, cultivamos monocristales tirando de la orientación 111 del cristal. Sin embargo, debido a diversos factores externos, como la temperatura, la velocidad de tracción y diversas aleatoriedades de la mecánica cuántica, se produce una desalineación durante el proceso de crecimiento. Esto se denomina defecto.
Otra causa de la generación de defectos en el chip es la estructura irregular provocada por la implantación de iones, que no puede corregirse ni siquiera con el recocido. Estos problemas en el semiconductor pueden provocar fallos en el dispositivo, que a su vez afectan a todo el chip. Por lo tanto, para poder extraer el chip fallido o semifallido después de la producción, se añadirán circuitos de prueba especiales en el momento del diseño, como la prueba dentro de la simulación, la lógica en lo digital y el almacenamiento para garantizar la entrega al cliente. Se trata de un chip ok. Los productos que fallan o son semi-fallidos se descartan o se venden a la baja después de la castración.
Cuando se ejecuta el sistema de prueba de chips, si se encuentra que el chip en el sistema de prueba de chips no está calificado, es necesario eliminarlo a tiempo para mejorar continuamente la eficiencia operativa del chip. (Este artículo es de la red de origen, si hay alguna infracción, por favor póngase en contacto con Lneya para eliminar, gracias).
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