Enfriadores para pruebas de semiconductores

LNEYA representa la tecnología internacional avanzada de control de temperatura líquida, explora y estudia activamente los sistemas de prueba de componentes, utilizados principalmente para la simulación de prueba de temperatura en la prueba de semiconductores, con amplia orientación de temperatura y alta subida y bajada de temperatura, rango de temperatura -92°C ~ 250°C, adecuado para varios requisitos de prueba. LNEYA se compromete a resolver el problema de retraso de control de temperatura en componentes electrónicos. La tecnología de enfriamiento de temperatura ultra alta puede enfriarse directamente desde 300°C.

  Suable para el control preciso de la temperatura de los componentes electrónicos. En la fabricación de componentes electrónicos semiconductores para entornos adversos, las fases de ensamblaje de embalajes de circuitos integrados y de pruebas de ingeniería y producción incluyen pruebas térmicas electrónicas y otras simulaciones de pruebas ambientales a temperaturas (de -45°C a +250°C). Una vez puestos en uso práctico, estos dispositivos semiconductores y productos electrónicos pueden exponerse a condiciones ambientales extremas para cumplir las exigentes normas de fiabilidad militar y de telecomunicaciones.